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X射線(xiàn)衍射儀是材料學(xué)相關(guān)領(lǐng)域基礎且不能缺少的分析手段，具備無(wú)損、樣品制備簡(jiǎn)單等優(yōu)勢。X射線(xiàn)衍射儀一般主要由X射線(xiàn)光源部分、測角儀、樣品臺、光路系統、探測器五大部分組成。Bruke結合具備優(yōu)異性能的LYNXEYE系列能量色散陣列探測器的優(yōu)勢，在桌面衍射儀這個(gè)平臺上大膽的嘗試了新的結構和運動(dòng)邏輯，強勢推出了一款跨界的多功能桌面式（臺式）衍射系統D6 Phaser

三維X射線(xiàn)顯微鏡 （XRM）SKYSCAN 2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新納米級三維X射線(xiàn)顯微鏡（XRM），除了保留上一代SKYSCAN2214 ＜500nm的真正三維空間分辨率和多探測器配置（不超過(guò)4個(gè)）等*性能外，該設備在X射線(xiàn)源功率和探測器類(lèi)型方面進(jìn)行了多方面升級，以確保用戶(hù)能夠獲得更大的成像視野和更明亮的圖像數據。

1） 6KW高強度Cu轉靶光源2） 垂直q/qATLAS測角儀Ultra compact design3） Eiger2 R 500k二維探測器4） 液氦低溫系統PheniX cryostat：12K~300K5） 液氮低溫系統：MTC-LOWTEMP液氮溫度到450度6） 環(huán)境加熱高溫：MTC-FURNACE室溫-1100度；X射線(xiàn)衍射儀高分辨透射及PDF散射系統檢測

原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀(guān)察材料結構變化，探索材料合成條件；也可以用來(lái)探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化，這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結構變化引起的安全問(wèn)題是一種重要的手段； 科研支撐、變溫物相分析、變溫過(guò)程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動(dòng)力學(xué)分析；分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線(xiàn)衍射儀檢測

原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀(guān)察材料結構變化，探索材料合成條件；也可以用來(lái)探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化，這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一，即材料結構變化引起的安全問(wèn)題是一種重要的手段；科研支撐、變溫物相分析、變溫過(guò)程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動(dòng)力學(xué)分析；電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應物相分析。原位X射線(xiàn)衍射儀檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀，采用創(chuàng )造性的達芬奇設計，通過(guò)TWIN-TWIN光路設計，成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶(hù)可以進(jìn)行雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測。

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀，采用創(chuàng )造性的達芬奇設計，通過(guò)TWIN-TWIN光路設計，成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶(hù)可以進(jìn)行多晶X射線(xiàn)衍射儀檢測。

德國弗萊貝格儀器的XRD-OEM（在線(xiàn)X射線(xiàn)衍射儀--X射線(xiàn)單晶定向儀），主要用于對晶體的定向以及切口/平面形狀和位置的測量，其可以直接集成到研磨或鋸切設備中使用，將測量過(guò)程整合到工業(yè)生產(chǎn)中，解決了由于加工設備和定向測量過(guò)程分開(kāi)而造成的定向誤差等行業(yè)難題。

德國弗萊貝格儀器Quatrz XRD（石英晶體X射線(xiàn)衍射儀--石英棒定向儀）主要應用于對石英棒、硅片和坯料進(jìn)行生產(chǎn)質(zhì)量控制。而根據樣品對象的不同，Quatrz XRD可以分為Quatrz Bar XRD、Quatrz Wafer XRD和Quatrz Blank XRD，即全自動(dòng)石英棒定向儀、全自動(dòng)石英晶圓盤(pán)分析儀和全自動(dòng)石英晶片分選儀三種型號。